电镀膜厚度的测量是电镀工艺中非常重要的环节，因为它直接影响到电镀膜的质量和使用寿命。为了准确测量电镀膜的厚度，人们开发了许多不同的测量仪器，其中比较常用的是X射线荧光光谱仪和表面轮廓仪。

X射线荧光光谱仪是一种基于X射线荧光原理的测量仪器，它通过射入样品表面的X射线激发样品中的原子，使得原子发出特定的荧光辐射。这些辐射的能量和强度与样品中元素的种类和含量有关，因此可以通过测量荧光辐射的能量和强度来确定样品中不同元素的含量和厚度。

X射线荧光光谱仪具有快速、准确、非接触等优点，但也存在一些缺点，比如成本较高、需要专业操作等。

另外一种常用的测量仪器是表面轮廓仪，它通过测量样品表面的形态和轮廓来推算出电镀膜的厚度。表面轮廓仪可以测量样品表面的形态和轮廓，包括表面粗糙度、平坦度、平行度等指标，因此可以准确地推算出电镀膜的厚度。

表面轮廓仪具有使用方便、成本低廉等优点，但也存在一些缺点，比如需要接触式测量、对样品表面质量有一定要求等。

综上所述，X射线荧光光谱仪和表面轮廓仪都是比较常用的测量电镀膜厚度的仪器，它们各自具有一些优点和缺点，在实际应用中需要根据具体情况选择合适的测量仪器。